METTLER 差示扫描量热仪 闪速DSC2+；1.是目前市面上唯yi商用化的闪速DSC 2.相比于上一代产品，升降温速率达到数量级提高。 3.宽广的温度范围 — 执行从-95到1000 ?C的测量 4.样品直接放在MultiSTAR芯片传感器上。获得zuan利的动态功率补偿控 制电路能够在很高的加热与冷却速率条件下进行测量，并且噪音水平极 小。

METTLER  差示扫描量热仪  闪速DSC2+

1.是目前市面上唯yi商用化的闪速DSC 2.相比于上一代产品，升降温速率达到数量级提高。 3.宽广的温度范围 — 执行从-95到1000 ?C的测量 4.样品直接放在MultiSTAR芯片传感器上。获得zuan利的动态功率补偿控 制电路能够在很高的加热与冷却速率条件下进行测量，并且噪音水平极 小。

Flash DSC 2+

Flash DSC 2+ 为快速扫描 DSC 带来了历史性变化。 该仪器可对以前无法测试的结构重组过程进行分析。 Flash DSC 2+ 是对传统 DSC 的*补充。 现在，升温和降温速率范围已覆盖超过 7 个数量级。

采用市售较快速的 DSC — 它是研究 –95 到 1000 °C 温度范围内快速结晶和重组过程的*选择。

它的升温与降温速率*，为研究热致物理转变和化学过程（如聚合物、金属和其他材料的结晶与结构重组）提供全新的视角。

超高升温与降温速率

        使用高升温速率可在不受重组过程干扰的情况下分析材料，这是因为材料根本没有时间，来不及出现此类过程。  闪速差示扫描量热法还是研究结晶动力学的理想方法。

快速响应传感器

在 Flash DSC 2+ 中，样品直接放在 MultiSTAR 芯片传感器上。 使用获得zuan利的动态功率补偿控制电路，允许在很高的升温与降温速率条件下进行测试，且噪音水平极小。 Flash DSC 2+ 可使用两种 MultiSTAR 传感器（UFS 1 或 UFH 1）中的任意一种进行测试，它们被安装在一个可以传导电信号的稳定陶瓷基材上。

METTLER  差示扫描量热仪  闪速DSC2+